产品简介
YJ-1902FS反射比测量仪是一款功能全面、性能卓越的测量仪器，适用于多个领域的反射率测量需求。其精确的技术指标和广泛的应用领域使其成为科研、生产和质量控制的
YJ-1902FS反射比测量仪是一款功能全面、性能**的测量仪器，适用于多个领域的反射率测量需求。其**的技术指标和广泛的应用领域使其成为科研、生产和质量控制的重要工具。无论是材料研发、产品检测还是实验分析，YJ-1902FS都能为用户提供准确、可靠的数据支持，助力行业的创新与发展。
应用领域：
涂料、颜料、油墨、塑料：该仪器可以准确测量这些材料的反射率谱图，帮助用户进行颜色分选和质量控制。
固体与粉末反射率：无论是固体还是粉末状物质，YJ-1902FS都能提供**的反射率光谱测量数据。
薄膜与光学元件：对于不透明薄膜和光学元件，该仪器能进行反射率检测，满足科研和生产的需要。
荧光粉与太阳能硅片：该仪器还适用于荧光粉的检测和太阳能硅片的反射率测量，为新能源行业提供技术支持。
织物与生化过程：在纺织行业和生化过程中，YJ-1902FS也能发挥重要作用，进行织物测量和生化过程监控。
生物测量与化学分析：该仪器还适用于生物测量和化学分析和识别，为科研和实验提供数据支持。
技术指标：
YJ-1902FS反射比测量仪在技术上表现出色，其单色器系统采用双光束1200L/mm设计，保证了测试的**性。杂散光、波长范围、稳定性、光谱带宽、基线平基度、波长准确度、波长重复性等多项指标均达到或超过行业标准，确保测试结果的准确性和可靠性。
标准配置：
购买YJ-1902FS反射比测量仪时，用户将获得一套完整的标准配置，包括主机、玻璃比色皿、保修卡、电源线、说明书、石英比色皿、USB连接线以及U盘等，为用户提供了一站式的解决方案。
技术指标：
单色器系统 | 双光束1200L/mm | 杂散光 | ≤0.03%t（220nm Nal、360nm NaNO2） |
波长范围 | 190-1100nm | 稳定性 | ≤±0.004A/h（500nm、开机预热30min） |
光谱带宽 | 1nm | 基线平基度 | ≤±0.0008A |
波长准确度 | ≤±0.3nm | 扫描速度 | 快 中 慢 |
波长重复性 | ≤0.1nm | 光 源 灯 | 氘灯（进口） 钨灯（进口） |
光度范围 | -4A～4A | 电源电压 | 100V～240V 50/60±1Hz |
光度准确度 | ≤±0.3%t ≤±0.002A ≤±0.004A | 外形尺寸 | 650×450×220（mm） |
光度重复性 | ≤0.15%t ≤0.001A ≤0.002A | 重 量 | 25kg |
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